Атомно-силовая микроскопия

 

 

 

 

                                                                                                                                              

Атомно-силовой сканирующий микроскоп Solver PRO-M (NT-MDT). Предназначен для исследования нанобобъектов со сверхвысоким пространственным разрешением (до 0,1 нм по вертикали и до 1 нм по горизонтали). Solver PRO-M позволяет исследовать профиль поверхности образцов с площадью до 100x100 мкм.